База кодов ГОСТ
Общероссийский классификатор стандартов → МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ
17. МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ
← 1 2 3 4 5 … 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 … 170 171 172 173 174 →
- Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы материалов (веществ). Содержание паспортов и этикеток
State system for ensuring the uniformity of measurements. Certified reference materials. Contents of certificates and labels
Настоящий стандарт устанавливает общие требования к содержанию паспортов и этикеток к стандартным образцам, применяемым в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений - Государственная система обеспечения единства измерений. Требования к компетентности провайдеров проверок квалификации испытательных лабораторий посредством межлабораторных сравнительных испытаний
State system for ensuring the uniformity of measurements. Requirements for the competence of providers of proficiency testing for test laboratories by interlaboratory comparisons
Настоящий стандарт устанавливает требования к компетентности провайдеров проверок квалификации испытательных лабораторий и связанных с провайдерами субподрядчиков.
Настоящий стандарт предоставляет также рекомендации для любой организации, которая устанавливает требования к компетентности провайдеров проверок квалификации - Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений объемной активности искусственных радиоактивных аэрозолей. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring instruments of artificial radioactive aerosols volumetric activity. Verification procedure
Настоящий стандарт распространяется на средства измерений объемной активности искусственных радиоактивных аэрозолей по ГОСТ 22251 в диапазоне измерений от 1 • 10 в степени минус 2 до 4 • 10 в степени минус 7 Бк•м в степени минус 3 с погрешностью 40% – 60 % в соответствии с требованиями ГОСТ 8.090 и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок.
Межповерочный интервал - один год - Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы материалов (веществ). Общие статистические принципы определения метрологических характеристик
State system for ensuring the uniformity of measurements. Standard reference materials (substances). General statistical principles of determination of metrological characteristics
Настоящий стандарт устанавливает общие и статистические принципы разработки, определения метрологических характеристик стандартных образцов. Положения настоящего стандарта способствуют пониманию и развитию методов оценивания аттестованных значений стандартных образцов, их неопределенностей, установлению метрологической прослеживаемости стандартных образцов.
Стандартные образцы, метрологические характеристики которых определены в соответствии с настоящим стандартом, сопровождаемые паспортом стандартных образцов, являются аттестованными стандартными образцами. Настоящий стандарт описывает принципы определения метрологических характеристик аттестованных стандартных образцов, обеспечивающих сравнимость, точность результатов измерений, метрологическую прослеживаемость результатов измерений к национальным или международным эталонам или установленным опорным значениям - Государственная система обеспечения единства измерений. Металлы и сплавы. Измерения твердости по Виккерсу. Часть 2. Поверка и калибровка твердомеров
State system for ensuring the uniformity of measurements. Metals and alloys. Vickers hardness test. Part 2. Verification and calibration of testing machines
Настоящий стандарт распространяется на метод поверки твердомеров для измерения твердости металлов и сплавов по шкалам Виккерса, в соответствии с ГОСТ Р ИСО 6507-1.
Он определяет метод поэлементной поверки твердомеров для контроля основных функций работы твердомера и метод поверки по эталонным мерам твердости, предназначенный для контроля твердомера в целом. Метод поверки по эталонным мерам твердости может использоваться для контроля твердомера в процессе эксплуатации.
Если твердомер позволяет проводить измерения по другим методам твердости, то он должен независимо поверяться по шкалам каждого из этих методов.
Этот документ применим также и для портативных твердомеров - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А.
Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения - Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:
- максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.
Настоящий стандарт распространяется на:
- материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;
- многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках - Государственная система обеспечения единства измерений. Величины, единицы, шкалы измерений, используемые в глобальной навигационной спутниковой системе
State system for ensuring the uniformity of measurements. Quantities, units, scales of measurement, which are used in global navigation satellite system
Настоящий стандарт распространяется на величины, единицы и шкалы измерений, используемые в глобальной навигационной спутниковой системе (ГЛОНАСС) в целях определения местоположения (взаиморасположения), направления, скорости движения и момента времени навигационной аппаратуры потребителя ГЛОНАСС.
Для измеряемых величин установлены:
- наименование измеряемой величины;
- наименования единиц измеряемых величин или шкал измерений;
- обозначения единиц измерения величин.
Для измеряемых качественных (номинативных) свойств установлены:
- наименование измеряемого свойства;
- наименования и обозначения шкал измерений;
- используемые в шкалах единицы измерений или условные обозначения.
Используемые в стандарте наименования единиц измерений и их обозначения соответствуют принятым Международной системой единиц (СИ) и допущены к применению в Российской Федерации - Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
State system for ensuring the uniformity of measurements. Method of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope
Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа.
Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м
← 1 2 3 4 5 … 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 … 170 171 172 173 174 →
