База кодов ГОСТ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
- Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц:
1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов;
2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов:
а) метод измерительной линии с подвижным зондом;
б) метод измерительной линии с фиксированным зондом;
в) резонаторный метод - Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения полного входного сопротивления
Semicondactor UHF mixer diodes. Measurement method of input impedance
Настоящий стандарт распространяется на смесительные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения полного входного сопротивления - Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности
Semiconductor UHF detector diodes. Measurement methods of tangential sensitivity
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ детекторные диоды и устанавливает два метода измерения тангенциальной чувствительности: прямой и косвенный - Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency
Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты - Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивлений - Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей
Semiconductor microwave limiter diodes. Measurement method of break-down and leakage powers
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режиме - Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей - Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости
Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения;
методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения - Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения
